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现代矿业 ›› 2009, Vol. 25 ›› Issue (11): 50-52.

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X射线荧光光谱分析法在检测铁矿石组分中的应用

  

  1. 武汉理工大学资源与环境工程学院
  • 出版日期:2010-11-20 发布日期:2010-12-24

  • Online:2010-11-20 Published:2010-12-24

摘要: 应用X射线荧光法测定铁矿中的主要成分、次要成分和微量成分,既提高了灵敏度又消除了非均质效应。使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,经标准物质检验分析,结果与标准值基本吻合。应用玻璃熔融技术对钒钛磁铁矿GBW07225国家一级标准物质进行精密度试验,试验统计结果表明,除K2O、P2O5、Ni的RSD小于15%,其余组分的RSD小于4.0%(n=12)。

关键词: 铁矿, X射线荧光光谱, 基体效应校正, 玻璃熔融技术